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BIB板高低温试验箱:半导体可靠性测试的关键设备与技术解析
文章出处 : 技术支持 文章编辑 : 三木科技 阅读量 : 361 发表时间 : 2025-06-19

三木科技的BIB板高低温试验箱是一款专门用于检测半导体芯片、集成电路、电子元器件等产品在高低温环境下的性能、可靠性及稳定性的测试设备,它能模拟极端温度环境-40℃~+150℃,验证芯片在高温、低温温度循环变化下的工作状态,确保其符合行业标准及实际应用需求。箱体后侧内置测试插座或探针台、接口等支持晶圆封装芯片在线测试。

 

设备技术参数
温度范围:-40℃~+150℃(实际上下限>5℃);
升温速率:+25℃→+150℃≥3℃/min(非线性,负载不通电);
降温速率:+25℃→-40℃≥3℃/min(非线性,负载不通电);
温度均匀度:≤士3℃(单个腔体放满20张老化板工作时);
温度偏差:≤士2℃(单个腔体放满20张老化板不工作时);
温度波动度:≤士0.5℃(单个腔体放满20张老化板不工作时);
温度稳定时间:温箱到达设定值之后在士2℃之内的时间≤10min(含直喷系统)。

 

BIB板高低温试验箱:半导体可靠性测试的关键设备与技术解析

 

设备特点
工作噪音:A声级≤75dB(A)(大门前 1m,离地面高度1.2m处,自由空间中测量);
安全保护:有各个系统及程序的安全保护,确保设备的使用安全;
故障报警:会显示故障原因及处理提示;
自动门设计:独立自动开/关门功能,箱门之间互不干涉,支持通讯联动控制,软件/手动按钮控制;
通讯方式:支持串口/网口/USB通信,开放PLC的通讯接口;
可以高低温连续运行168小时且使用缝隙不会结霜结露。

 

符合的标准
SEMI S8:半导体设备安全操作规范
SEMI E5:SEMI设备通讯标准内容规范
SEMI E10:设备可靠性、可用性、可维护性和使用率的定义和测量规范
SEMI E95:半导体制造设备人机界面规范
IPC-SMEMA-9851:SMEMA机器接口标准
备注:满足但不限于以上标准。

 

特色服务
售前:专业技术咨询;设备选型;产品试验方案建议;实验室建设方案等。
售中:客户沟通;进度报告;配合计量;相关指导、安装、调试、试机等。

售后:技术培训,操作使用,日常维护保养、常见故障检测和排除;定期回访,设备巡检,排除故障隐患,传递最新消息;快速响应售后。

 

半导体产品的可靠性直接影响终端设备的性能与寿命,而环境试验箱是确保其品质的关键工具。通过遵循国际和国内标准,企业能够系统化地验证产品的环境适应性,提升市场竞争力。
三木科技凭借精准的环境模拟能力和完善的测试服务体系,致力于为半导体领域客户提供高效、可靠的测试支持,助力产品性能提升与安全认证。如需了解更多专业的测试解决方案,请联系三木科技,我们将为您量身定制专业服务。


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