冷热冲击试验箱是模拟设备在极短时间内经历从高温到低温或者从低温到高温快速转换的环境变化的设备。这种极端温度变化通常能够迅速暴露半导体元器件的潜在缺陷，如连接不稳定、封装开裂或材料疲劳等问题。三木科技的两槽冷热冲击试验箱严格遵循IEC 60721标准，通过精准的温度控制和快速的温度切换，帮助半导体企业验证产品在极限环境下的可靠性和稳定性。
IEC 60721 是国际电工委员会制定的一套关于环境条件分类的核心标准，广泛用于电子与半导体产品在运输、存储和使用全生命周期中的环路。在半导体行业，芯片、模块、传感器及电子器件常面临复杂多变的环境挑战，如温度冲击、高湿、相关振动、盐雾腐蚀等。IEC 60721标准正是为了提供系统的环境条件分类方法，帮助半导体公司识别产品在不同阶段可能遇到的故障，并据此制定科学合理的可靠性测试方案。
两槽冷热冲击试验箱性能参数
温度冲击范围：-65℃～+150℃
高温槽储能范围：（1）预热上限温度：+60℃～+200℃
（2）升温时间：常温→+200℃ ≤45min（3.0~5.0℃/min）
注：升温时间为高温箱单独运转时的性能
低温槽储能范围：（1）预冷下限温度：-10℃～-70℃
（2）降温时间: 常温→-70℃≤60min（1.0~2.0℃/min）
注：降温时间为低温箱单独运转时的性能
温度冲击复归性能：高温曝露+150℃，30分钟以上，测试时间可调节
低温曝露-65℃，30分钟以上，测试时间可调节
温度冲击恢复时间：≤5min以内完成，带载15kg IEC下
吊篮转换时间：10秒以内完成
设备特点
温度恢复时间短，两个温度系统实现了样品温度恢复时间（小于5 分钟）。
测试区域内的平均气流可保证出色的温度分布。
提篮转换时间小于10秒。
在严苛的极端温差骤变下，产品的可靠性与稳定性面临挑战。三木科技的冷热冲击试验箱，严格遵循并精准适配IEC 60721系列标准，为各类样品提供符合国际规范的严苛冲击测试环境，确保设备在极端温变下的自身稳定性和测试结果的精准可靠。此外，三木科技还提供高低温试验箱和恒温恒湿试验箱等。
如需了解更多专业的测试解决方案，请联系三木科技，我们将为您量身定制专业服务。
