如何保证现代电子产品质量与可靠性。帮助工程师在研发阶段快速发现设计缺陷、筛选潜在故障，从而确保最终产品在市场上的长期稳定性。三木科技深耕环境试验设备领域，凭借深厚的技术积淀，推出的HAST高压加速老化试验箱严格遵循国际电工委员会发布的IEC 60068-2-66标准（环境试验 第2部分的测试方法Cx：连续湿热试验，即不饱和加压蒸汽），用于IC半导体、微电子封装、PCB板、光伏模块、磁性材料、高分子材料等产品的加速老化寿命测试和可靠性评价。
一、 标准解读
IEC 60068-2-66标准所定义的测试方法Cx，核心在于模拟一种高于产品正常使用条件的、持续的高温高湿非饱和加压蒸汽环境。与传统的恒定湿热或温湿度循环测试相比，该方法通过在压力容器内创造高于大气压的环境，使得水蒸气在更高温度下仍能保持不饱和状态，从而极大地加速了湿气向样品内部的渗透速率。
三木科技的HAST试验箱正是实现这一高标准测试的利器，它将IEC 60068-2-66的严苛要求转化为精确、可控、可复现的物理环境，帮助研发和质量团队在产品设计定型及批量生产前，及时发现缺陷、优化设计、提升品质，从而大幅缩短研发周期，降低市场失效风险。
二、三木科技HAST试验箱的专业性
为满足IEC 60068-2-66标准对温度、湿度、压力的精确控制和长期稳定性的极致要求，三木科技HAST高压加速老化试验箱的技术参数：
温度范围：+105.0℃~+133.0℃
压力控制范围：0.5~2.3kg/cm2(0.05~0.23Mpa)
湿度范围：65%~100%R.H
HAST测试条件可以有130℃、85%RH、230Kpa大气，96小时测试时间。
三、技术特点
设备采用先进的多段PID智能控制算法，配合高精度传感器，能够精确稳定的实现温湿度压力控制。
试验箱采用优质不锈钢内胆与特种密封件，耐高温抗老化，确保长期稳定运行。
完整记录测试数据，便捷导出，确保全过程可追溯。
具有卓越的安全防护与人性化设计。
在竞争日益激烈的全球制造业中，可靠性是品牌的基石，更是赢得客户信任的关键。三木科技的HAST高压加速老化试验箱，以IEC 60068-2-66国际标准为准则，以其卓越的专业性能、可靠的安全保障和智能化的操作体验，为企业构筑了一道坚实的产品质量防线。除了HAST高压加速老化试验箱，三木科技还提供快速温变试验箱、冷热冲击试验箱、高低温试验箱等测试设备。
如需获取专业的测试解决方案，请联系三木科技，我们将为您量身定制专业服务。
